STM32F030F4 HSI时钟温度测试过不去

zzx1995

最近做一个传感器项目，因为比较紧凑，选用了F030F4的单片机使用内部8M时钟PLL到36M作为时钟源，在代码中开启了2个定时器，一个1s一个50ms，1s的定时器中进行喂狗并翻转IO口电平，50ms定时器中查询某个状态位然后通过io驱动LED闪烁做状态指示，定时器中断代码如附件所示。目前遇到的问题是用烙铁在芯片上方5mm处加温，过一会1s定时器控制翻转电平的io口变成了低电平，不再翻转，50ms的定时器io口电平翻转正常，但是用示波器测波形不稳定，有时会从9.6Hz直接跳到10.16Hz然后再跳回来。现在程序正常工作，在1s的定时器里做了喂狗操作，能确定的是程序没跑飞，也没复位，串口输出，i2c读取传感器数据也正常，就是1s定时器翻转io口电平驱动led，从闪烁变成了常亮。
请大家给帮忙分析下看看是什么情况，谢谢

radio2radio

问题是用烙铁在芯片上方5mm处加温。

这样做你不知道IC受到的真实温度，有没有超出工作温度上限，还是用恒温箱做测试吧。

ts2000

烙铁温度随便都有300度，F030耐温才108度左右，你确认没问题吗？用的还是内部晶振，不出问题才怪吧。

butterflyspring

如果是温度引起的，不应该只有1s的定时有变化，而其他的运行正常，几率太小了。
通常温度急剧变化对内部时钟会有影响，如果影响到节温，那基本芯片就不能运行了。
所以楼主不妨只运行这个1s的程序，看看同样条件下是否正常。当然最好还是在恒温恒湿箱里做这个实验，否则条件不确定容易引起误判。