前言' r5 M0 @. {# s0 w8 O 在各种应用场景中,比如电机,电源,变频器等应用中,ADC的采样点会有很严格的要求,如果采样点选择错误,会给整个控制系统造成严重后果,本文针对STM32Fxxx的PWM波硬件间隔ADC采样实现方式做简要介绍;/ V: {; x& j7 y PWM硬件触发ADC 在STM32Fxxx中Timer1一般用于产生互补输出的ADC,一般的设定都是使用PWM波中心点,或者是Timer1的第四通道(TIM1_CH4) 作为ADC的触发输入信号(可改变采样点的选取);该设定一般是每个PWM周期触发ADC采样一次,软件设定也比较成熟: PWM波中心点触发ADC设定:5 O4 `( C, z8 v" z- @2 E TIM1_CH4作为ADC的触发信号设定: 6 U: j1 `6 y7 i! f- F PWM硬件间隔触发ADC 有些应用场景下,ADC硬件触发转换结束后会进行系统的关键程序的计算,比如电机的FOC算法,电源的电流环控制等,当客户使用的芯片速度没有足够快,比如使用了STM32F0xx(48MHz主频),或者PWM波太快,比如电源60KHZ的PWM波,在一个PWM波周期内无法完成ADC转化以及核心算法计算,这时候需要在2个PWM周期或者是多个PWM周期进行ADC的触发转化,此时就需要将ADC的硬件触发转化变为间隔采样; . I) u% i7 [( D. Z PWM波中心点间隔触发ADC设定2 g" I: j3 V# L' m 在STM32Fxxx中最直接有效的设定,使用Repetition寄存器,同时设定Timer1的update信号作为触发输出,图一的蓝色箭头即为此种情况的触发点设定9 v, u5 {$ T# J 0 M3 |6 \0 R/ k4 ? 可改变采样点的间隔触发ADC设定3 _3 M9 S/ f) k0 }3 Z 可改变采样点的间隔ADC触发,即图一中的绿色箭头,使用TIM1_CH4这种方式不能实现纯硬件触发采样,这种情况下有两种方法可实现这个采样方式:7 T4 [+ y% @ x' b, S 一,硬件触发+软件计数方式 ADC的采样及转化时间很短,基本上需要间隔采样方式,时间基本上都是消耗在算法实现上,所以可以采用每个PWM周期都进行硬件触发ADC,但算法计算则是间隔实现,使用全局变量的计数方式,也就是在ADC转换完成结束后,进行计数,当计数值达到间隔采样数据后才进行算法计算,这种方法即兼容了ADC可改变采样点以及间隔计算的目的,比较实用;. Q& H: g" @1 L: x$ e! _: r 二,纯硬件方式9 U* B& W$ v$ j! A0 X" ` 此时需要引入辅助Timer来实现,辅助Timer的频率设定为Timer1的倍数关系,倍数的数值设定为间隔周期,辅助Timer的比较寄存器数据设定为采样点的数据(比如上面所说的TIM1_CCR4)$ S! P7 j* s2 G# F& R2 D3 I ; S0 F# d* l0 A; y4 q 文档下载0 z" ~6 C1 y; O {' b; f8 F " U3 r0 `+ w2 N3 p/ \% ^5 D! y9 s3 M 更多实战经验 |
怎么设置为一次啊, 高电平中间触发adc采样