STM32G071评测：Flash

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STM1024 发布时间：2019-1-16 20:42

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本帖最后由 stm1024 于 2019-1-18 11:15 编辑

Flash现已成为MCU的标配，Flash的特性在决定了MCU的一些功能，如代码大小、执行效率、FDU等。了解一款MCU的Flash显得很重要，这里测试一下G071的Flash。
先看看和F0存在的不同。flash的大小就没必要深究了，主要的区别如下：

1.指令缓存。Flash控制器含有一个8字节的预取指缓冲器和一个16字节的指令缓存。
2.OTP区域。所谓的OTP，也就是one time programming，这个区域可以按双字方式写入数据，而且只能写一次，如果写入的数据有一个bit不为0，则以后这个区域就不可更改了，可用于存取非擦写的用户数据。
3.快速编程。官方给出的数据是22ms的擦除时间和写入每双字时间为82us。
4.PCROP。这个是proprietary code readout protection的缩写，用于保护代码，其代码只能用来执行，而不能被读取或写入。至于Securable Memory，则是安全储存器，该区域不能被非安全区域外访问，
5.ECC。ECC是Error Correction and Checking，即错误检查和纠正。能检查2 bits的错误，并能纠正1 bit翻转错误。

再看看Flash的组织。见下图：

Flash主要分为两块，分别是主块和信息块。主块就是常规使用的Flash，通常也是我们程序的入口地址，这一块可以随便使用。
而信息块则包含了系统储存器，OTP区域和选项字节，Flash的操作方式按下图：

编程需要一次写入8字节，也就是粒度为64bits（实际上是72bits，还有8bits的ECC）快速编程为256字节（仅支持Main Memory），快速编程因为不检查所写入的地址，因此比标准编程快了约37%。擦除可按2KB的页或者整个擦除（128KB），但花费的时间相当。

在选项字节的配置上，和F0系列没有差别（或者我还没有发现）。

以下Flash编程测试代码：

int main(void)$ }2 K1 b% i9 L. ?( O: z8 K
{
" [2 I7 i; m' A9 o9 _4 B
uint16_t i;
! Q- A* b/ e v9 P& t
HAL_Init();/ Z$ f, _9 \3 f6 h
SystemClock_Config();
. G9 Z0 ~- m* u- M: Z$ v
MX_GPIO_Init();0 C" d9 J: {* l5 f/ F4 G* q
HAL_FLASH_Unlock(); ; M) H& J# q; d$ s$ N2 W
EraseInitStruct.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_PAGES;* T/ M* W4 R4 k& X3 j! ^$ T
EraseInitStruct.Page = GetPage(FLASH_USER_START_ADDR);
7 h) ?8 _. F$ u* k7 F3 }' E+ D! H; a
EraseInitStruct.NbPages = 1;
6 {8 x9 R" @1 x R$ r
HAL_FLASHEx_Erase(&EraseInitStruct, &PageError);
& v$ c6 G) a& {' _' u* C
//8*256=2KB,1 page ) \' x9 M4 D) p( O* {
for(i=0;i<0x100;i++)9 Q4 c* j7 F& ^( ~: [0 z
HAL_FLASH_Program(FLASH_TYPEPROGRAM_DOUBLEWORD, FLASH_USER_START_ADDR+i*8, 0xefcdab8967452301);
' @* D, B1 V: F1 U$ r u% @1 x
HAL_FLASH_Lock();
8 H: N4 V6 l# P3 ^( `' M; s
while (1)" c! @0 U1 |( g/ b& h5 ^8 v5 Q6 R
{3 r% I+ G: a( f6 L4 t1 v" L2 Q
2 R( O( |5 `$ Y3 I
}
( [! Z5 g, n# X% U" R
}