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问 题 描 述 ：
# V0 c; H: F- x% @, h" Z2 o8 F某客户反馈， 当 MCU 频繁的正常通断电的时候。FLASH 被异常改写，出现各种各样的异常（整片
& ]$ o" `6 E7 x# U% W) R! r) b别擦除、中断向量表被改写为 0、写保护被清掉、被加上读保护 ……..）

问 题 调 研 ：
首先跟客户沟通：
•  他们是延续之前的项目，进行的一些软硬件简单修改。之前的项目没有出现过类似的问题。
•  确认通断电的时间是足够，就是说他们断电后所有的 VDD 都回到 0.上电的时序也是正常。
, M4 x; ~- G, h7 `1 O•  原理图确认这是 follow 了我们的参考设计。
* a% Y. _' W4 o•  测量工作时的电压，只是发觉他们上电时会有一些抖动，其它一切正常。尝试让他们改善上电电路，去掉这一抖
: Q, j" ?' A2 Q9 p4 z动，再次实验，仍然出现类似的问题。
到这里似乎跟硬件没有任何的问题了， 接着让客户代码进行删减又做了如下实验：
) l3 x: e* O( g  M4 c; s1， 去掉能 APP 部分代码，仅仅留下 IAP 代码。做相同的实验，问题再现。
2， 进一步删减程序，客户去掉程序中所有跟 flash 以及 OPTION BYTE 相关的部分，做相同的实验，问题再现。
3， 没招，再删，最后仅仅留下下面程序：
, x' m* ^* X, _
% f. r1 W3 d3 D- \
2 d! L  `. C2 J7 P7 \4 U

8 u( g* k. \( o) @; D
6 d( r& b% }9 g/ e+ s/ R# A* N客户反应只要掉用了 delay_init 函数就会出问题，不调用就不会出问题（仅仅做了一天的实验）。到这里似乎跟我们的软
/ ~- y3 V; `% D, e# F件有关系了，我们进一步分析发现他们改写了我们的 systick 的 config 函数，那么我就做下一个实验。
# P  |) _$ E! ]# ?* [4， 改为标准库中的 systick 例程，去掉写保护，加一个 GPIO 定时翻转程序。同时在烧录之后，加上写保护，做相
同的实验，问题再现。
5， 到这里我们都怀疑是芯片真的有损伤了，我们再做了一个实验用 cubemx 生成了一个 GPIO 翻转和 systick 的延
时，做相同的实验，问题再现。
原因：
到这里我们似乎是江郎才尽，只能坐等 FA 的报告，看看芯片是否真的坏了与否。我们抱着怀疑一切的态度，请他们的硬件
9 _5 h& E/ J+ ?0 C, k6 T$ n; k工程师再次确认他们的硬件和原理图的一致性，我们怀疑他们的硬件是否有装错的元器件。主要集中在 MCU 周边。最后他们
的工程反馈，他们的 PDR_ON 脚，板子上装的元器件跟原理图不一致。他们把 R47 和 R48 都装了，那么相当于在 PDR_ON
上是一个 0.6v 的电压，也就是关断了 MCU 内部复位。
9 v  _6 c* \  o, M真是山穷水尽疑无路，柳暗花明又一村，问题应该跟内部复位有关。
  B1 W: G3 [6 ], J# m# h* l; X

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, _9 Q5 k) O2 C; j. o从上面规格书来看，如果我们关断 mcu 内部的复位电路，需要在外部接一个复位信号保证 VDD 达到正常工作电压之
1 ]& h) f6 v1 q, U前一直使 MCU 处于复位状态。

...
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过程描述详细，分析到位。

总之，问题出在，不按套路出牌。

画原理图的人应该背锅，预留但是不安装的电阻应该标注一下，整理BOM表以及整理坐标文件的时候都应该去除

學習了，謝謝分享.

zhongfg 发表于 2018-5-21 07:49
$ W& ?( _0 L7 L學習了，謝謝分享.

不客气哦

toofree 发表于 2018-5-17 17:56
) u# e* b' S- ^3 S7 o, ?* s过程描述详细，分析到位。
5 b+ s2 |7 Y5 h- H
总之，问题出在，不按套路出牌。

看来问题都要一个个排查啊

学习到了，，，，

都是很好的经验，值得借鉴

长知识。学习如何排查问题。