电机控制单电阻采样PWM变形信号产生

  d: s* w. D1 H% l% }" K前 言
* h% S1 x! L5 t电机控制单电阻采样机制是在一个PWM波形内采集两相电流ADC数据，但某些扇区边界条件下只能获得一路电流ADC数据， 需要对PWM波形进行变形用于构造电流采样区域。

7 X* v1 j9 k0 h1 F背景介绍
根据电机控制拓扑结构，单电阻采样在一个PWM控制周期内可以取得两相电流数据：
# H* h9 j4 S; h  k; Z
3 O% i% f% k- h  P; r* @, f% O

在扇区边沿无法获得两相电流信号。
: l; w. f9 I" K5 W
( C3 b- J; _+ A9 n1 N$ T- o
3 s% ]8 I$ G1 s0 M7 J. X/ V波形产生
1 ?  B1 x$ d) ]5 o% y; PST专利的方法是在波形的中间部分产生变形波形，在变形后的波形上就可以得到两相电流ADC数据；

, q6 `. j0 s1 R. e
* h' ?% y/ Q* P9 D# `; r( _. G8 B当然还有目前比较流行的波形移位方法也可以做到相同效果。 波形如下：
. V) ^7 H% m) t, x4 @
0 A* a& V+ N8 G4 T

STM32系列单片机Timer有足够的功能，可以产生上面两种波形，机制如下：

PWM波中间变形
7 f/ D& h7 B5 G: \, J: U! K5 N  t

1. 设定CCR4的DMA通道，并且设定此时Timer1的preload为禁止状态；
9 W! O2 U7 }' ^: g+ W% ]
, u5 ]  h" H4 ?+ C. B, ?( z2. 在CCR4 比较值部分产生DMA事件；
- H2 `+ X5 Z) a! a! ~. w
4 z2 }% |/ D: S+ t3. 在1点上将CCR1数据直接修改为周期数据+1；
# ?  o* R. i% a, B4. 在2点上将CCR1数据修改为CCR1’的数据；
/ `" ], s! O5 L8 r5. 时间计算上按照上面的图示设定，中间凹陷时间为两边补充波形时间之和。
0 D0 `0 N: H4 u4 `5 ^
1 Q6 T2 {* r' h  u6 F波形移位变形


* g/ M' q+ @: l& c  _0 {  U1. 设定Timer1的update事件的DMA通道

7 S1 u) k, h3 ?% p+ }2. 在1点上更新CCR1数据为CCR1数据；
) k; H/ Y1 r; k% ~$ J+ n3. 在2点上更新CCR1数据为CCR1’数据；
3 ?+ ^  X& }( {9 \# |+ x, N: r4. 保证前后的移位时间相同。


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