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前言! ~; K$ u# D5 }; s! t3 ]1 D- X: Z 在各种应用场景中，比如电机，电源，变频器等应用中，ADC的采样点会有很严格的要求，如果采样点选择错误，会给整个控制系统造成严重后果，本文针对STM32Fxxx的PWM波硬件间隔ADC采样实现方式做简要介绍； PWM硬件触发ADC 在STM32Fxxx中Timer1一般用于产生互补输出的ADC，一般的设定都是使用PWM波中心点，或者是Timer1的第四通道（TIM1_CH4） 作为ADC的触发输入信号（可改变采样点的选取）；该设定一般是每个PWM周期触发ADC采样一次，软件设定也比较成熟：* F6 U" Y/ S L PWM波中心点触发ADC设定： 
TIM1_CH4作为ADC的触发信号设定： , Q- S( k& ]) l( a( w3 A 
8 {9 @8 B; Z: m$ Z1 t5 c, V1 w PWM硬件间隔触发ADC 有些应用场景下，ADC硬件触发转换结束后会进行系统的关键程序的计算，比如电机的FOC算法，电源的电流环控制等，当客户使用的芯片速度没有足够快，比如使用了STM32F0xx（48MHz主频），或者PWM波太快，比如电源60KHZ的PWM波，在一个PWM波周期内无法完成ADC转化以及核心算法计算，这时候需要在2个PWM周期或者是多个PWM周期进行ADC的触发转化，此时就需要将ADC的硬件触发转化变为间隔采样； 
) q# I8 `$ ]* M, a& D PWM波中心点间隔触发ADC设定2 x8 u9 M i1 J0 z+ e 在STM32Fxxx中最直接有效的设定，使用Repetition寄存器，同时设定Timer1的update信号作为触发输出，图一的蓝色箭头即为此种情况的触发点设定 
( s2 f1 L6 Y- C7 z3 D% H 可改变采样点的间隔触发ADC设定 可改变采样点的间隔ADC触发，即图一中的绿色箭头，使用TIM1_CH4这种方式不能实现纯硬件触发采样，这种情况下有两种方法可实现这个采样方式： 一，硬件触发+软件计数方式8 t& G4 J/ `9 d ADC的采样及转化时间很短，基本上需要间隔采样方式，时间基本上都是消耗在算法实现上，所以可以采用每个PWM周期都进行硬件触发ADC，但算法计算则是间隔实现，使用全局变量的计数方式，也就是在ADC转换完成结束后，进行计数，当计数值达到间隔采样数据后才进行算法计算，这种方法即兼容了ADC可改变采样点以及间隔计算的目的，比较实用； 二，纯硬件方式7 m* E& v$ X) n' v+ I" E7 ~ 此时需要引入辅助Timer来实现，辅助Timer的频率设定为Timer1的倍数关系，倍数的数值设定为间隔周期，辅助Timer的比较寄存器数据设定为采样点的数据（比如上面所说的TIM1_CCR4）8 p1 S* k$ ~& a' g 
1 S+ m1 [, }+ i . s K& ]5 T$ b9 U) u( `3 E 6 j2 g% g% G% \" x# x$ P 文档下载, g) v7 y# ^* x 更多实战经验 |
怎么设置为一次啊， 高电平中间触发adc采样