【STM32G491试用】+ADC及内部温度传感器测量

胤幻1988

今天我们做下G491的ADC及内部温度传感器的测试。来看看G491的ADC到底怎么样。麻蛋，在新论坛提交后，竟然说系统繁忙！！！！

白白浪费我一个小时，火大。
G491的datasheet的说明上面提到了新增的4个PGA运放及可选的内部基准电压。
这样我们面对不同的采样电压，就可有多种方案了，well done!

其次，ST终于舍得在64PIN封装上引出Vref了。之前在F103上面用64PIN封装，好纠结
没有外部基准电压输入引脚。这个坑终于填了。
在NUCLEO-G491RE demo板上，集成了TL431老牌稳压基准芯片，总算提示了下ADC的采样质量。
硬件相关图:



下面，我们开始用STM32CUBEMX配置程序：
我们先选择PA0为ADC1IN1的采样通道引脚，配置成模拟模式：

开启独立通道1及内部温度传感器通道：

对ADC进行配置(这里明显比之前多了PGA增益的设置：Gain Compensation,但我们默认为0，不使用)：

配置完毕，生成代码。
下面，我们添加我们的ADCIN1采样的代码(我们这里稍作修改，把采样通道变成可变的，但前提是初始化里面一定要有对应引脚)：

1. /* USER CODE BEGIN 1 */
   
2. //获得ADC值
   
3. //ch: 通道值 0~16，取值范围为：ADC_CHANNEL_0~ADC_CHANNEL_16
   
4. //返回值:转换结果
   
5. u16 Get_Adc(u32 ch)   
   
6. {
   
7.         ADC_ChannelConfTypeDef ADC1_ChanConf;
   
8. 
   
9.         ADC1_ChanConf.Channel=ch;                                   //通道
   
10.         ADC1_ChanConf.Rank=ADC_REGULAR_RANK_1;                                       //第1个序列，序列1
    
11.         ADC1_ChanConf.SamplingTime=ADC_SAMPLETIME_247CYCLES_5;        //采样时间
    
12.         ADC1_ChanConf.SingleDiff = ADC_SINGLE_ENDED;
    
13.         ADC1_ChanConf.OffsetNumber = ADC_OFFSET_NONE;
    
14.         ADC1_ChanConf.Offset=0;                 
    
15.         HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1,&ADC1_ChanConf);        //通道配置
    
16. 
    
17.         HAL_ADC_Start(&hadc1);                               //开启ADC
    
18. 
    
19.         HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,10);                //轮询转换
    
20. 
    
21.         return (u16)HAL_ADC_GetValue(&hadc1);                //返回最近一次ADC1规则组的转换结果
    
22. }
    
23. //获取指定通道的转换值，取times次,然后平均
    
24. //times:获取次数
    
25. //返回值:通道ch的times次转换结果平均值
    
26. u16 Get_Adc_Average(u32 ch,u8 times)
    
27. {
    
28.         u32 temp_val=0;
    
29.         u8 t;
    
30.         for(t=0;t<times;t++)
    
31.         {
    
32.                 temp_val+=Get_Adc(ch);
    
33.                 delay_ms(5);
    
34.         }
    
35.         return temp_val/times;
    
36. }

复制代码

下面我们重点说下，内部温度传感器的转换公式，是如何得出的：
我们先看ST官方给出的资料：
TS_CAL1和TS_CAL2为官方出厂就校准好的分别在30°和130°下的ADC值，需要读写FLASH操作。

转换的公式：


但是这里，我们用它给出的典型值来计算，不读取上面的FLASH值。

我们可以得出：
Votage=Add_data*Vref/4096;
temperate=(Votage-V30)/Avg_Slope + 30; //转换为温度值
下面我们开始写读取温度的代码：

1. //得到温度值
   
2. //返回值:温度值(扩大了100倍,单位:℃.)
   
3. short Get_Temprate(void)
   
4. {
   
5.         u32 adcx;
   
6.         short result;
   
7.         double temperate;
   
8.         adcx=Get_Adc_Average(ADC_CHANNEL_TEMPSENSOR_ADC1,10);//读取内部温度传感器通道,10次取平均
   
9.         temperate=(float)adcx*(3.3/4096);                //电压值
   
10.         temperate=(temperate-0.76)/0.0025 + 30; //转换为温度值
    
11.         result=temperate*100;                                        //扩大100倍.
    
12.         return result;
    
13. }

复制代码

编译下载，查看串口输出：

经检测，ADC1IN1对应测试3.3V，ADC偶尔上下跳动一个单位，电压相差0.8mv；
3.3V/4096=0.8mv;与给出的几乎一致。
内部温度很温度几乎跳动很小。
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好了，ADC及内部温度测试就到这里。
谢谢大家！