本帖最后由 aimejia 于 2018-5-17 13:28 编辑 问 题 描 述 : 某客户反馈, 当 MCU 频繁的正常通断电的时候。FLASH 被异常改写,出现各种各样的异常(整片( G* |5 m0 [& H) z) j 别擦除、中断向量表被改写为 0、写保护被清掉、被加上读保护 ……..) # ~6 m! [" K' a! J% M# E' E 问 题 调 研 : 首先跟客户沟通:( O7 R% T0 \ B+ r/ Z0 R4 ~3 @: R/ ^9 ]4 [ • 他们是延续之前的项目,进行的一些软硬件简单修改。之前的项目没有出现过类似的问题。 • 确认通断电的时间是足够,就是说他们断电后所有的 VDD 都回到 0.上电的时序也是正常。3 ?+ g0 K0 y6 B- f1 y • 原理图确认这是 follow 了我们的参考设计。 • 测量工作时的电压,只是发觉他们上电时会有一些抖动,其它一切正常。尝试让他们改善上电电路,去掉这一抖 动,再次实验,仍然出现类似的问题。0 }$ U* T- i( R; Q u8 W. n' O( _4 ~ 到这里似乎跟硬件没有任何的问题了, 接着让客户代码进行删减又做了如下实验: j% n. p# I& j5 P3 `. j. H) e- L. f 1, 去掉能 APP 部分代码,仅仅留下 IAP 代码。做相同的实验,问题再现。 2, 进一步删减程序,客户去掉程序中所有跟 flash 以及 OPTION BYTE 相关的部分,做相同的实验,问题再现。 3, 没招,再删,最后仅仅留下下面程序: 客户反应只要掉用了 delay_init 函数就会出问题,不调用就不会出问题(仅仅做了一天的实验)。到这里似乎跟我们的软 F' e+ t6 l) g* a$ G6 r) H 件有关系了,我们进一步分析发现他们改写了我们的 systick 的 config 函数,那么我就做下一个实验。 4, 改为标准库中的 systick 例程,去掉写保护,加一个 GPIO 定时翻转程序。同时在烧录之后,加上写保护,做相 同的实验,问题再现。 5, 到这里我们都怀疑是芯片真的有损伤了,我们再做了一个实验用 cubemx 生成了一个 GPIO 翻转和 systick 的延 时,做相同的实验,问题再现。 原因:0 d1 u9 i# v1 V6 \) a 到这里我们似乎是江郎才尽,只能坐等 FA 的报告,看看芯片是否真的坏了与否。我们抱着怀疑一切的态度,请他们的硬件 工程师再次确认他们的硬件和原理图的一致性,我们怀疑他们的硬件是否有装错的元器件。主要集中在 MCU 周边。最后他们 的工程反馈,他们的 PDR_ON 脚,板子上装的元器件跟原理图不一致。他们把 R47 和 R48 都装了,那么相当于在 PDR_ON7 ?/ B9 L' Q. l4 P- `* y 上是一个 0.6v 的电压,也就是关断了 MCU 内部复位。+ a0 T' A! t* `: N& F 真是山穷水尽疑无路,柳暗花明又一村,问题应该跟内部复位有关。$ X1 ] U! m" ]' D6 Y/ k/ X % p e0 ~' u3 ?" }0 m 从上面规格书来看,如果我们关断 mcu 内部的复位电路,需要在外部接一个复位信号保证 VDD 达到正常工作电压之4 Z2 C+ S+ x% e: `0 ? 前一直使 MCU 处于复位状态。: j/ _+ K) O1 a f+ t" g ...8 C. n, U- ?; p+ f 了解更多,请下载后阅读 2 d" {8 H* I$ g; k7 E3 Z 下载地址1>> 下载地址2>> 更多实战经验>>3 s7 Z0 C6 I. D9 \! `- u8 P 4 m% ~+ k$ l+ q; \4 b1 w; A, w |
总之,问题出在,不按套路出牌。
不客气哦
看来问题都要一个个排查啊