电机控制单电阻采样PWM变形信号产生

2 m8 b1 h# ~2 x: r前 言
% i6 V; U& P/ E电机控制单电阻采样机制是在一个PWM波形内采集两相电流ADC数据，但某些扇区边界条件下只能获得一路电流ADC数据， 需要对PWM波形进行变形用于构造电流采样区域。
  e, d* E% d7 H$ G6 b: Z/ R0 l
背景介绍
( I* k# E: @/ d) }& Q# x根据电机控制拓扑结构，单电阻采样在一个PWM控制周期内可以取得两相电流数据：

+ j- Q- d* V) I( b) G6 l9 R
* S) c0 s5 t; `! h' e9 P  h' {
在扇区边沿无法获得两相电流信号。

$ R- u0 y/ G# v, A8 |  a. V  D
波形产生
/ l$ ~' K& A# L7 V# z* e1 Z& qST专利的方法是在波形的中间部分产生变形波形，在变形后的波形上就可以得到两相电流ADC数据；
; k; O. V8 e- r* i/ E

0 v. G* _+ U; c1 z$ b3 f2 Z+ g, V/ W$ \当然还有目前比较流行的波形移位方法也可以做到相同效果。 波形如下：

& M1 ~' f% c; P+ F/ N
5 y: l1 L" S4 e4 {, D
STM32系列单片机Timer有足够的功能，可以产生上面两种波形，机制如下：

! V% m* c, R: {! n6 Z' l, |PWM波中间变形
/ Q2 N9 `7 R8 C' q1 H/ _& Q2 M
$ j8 t# s% C) W& y, M% ^
" B& {/ h! l( \4 z0 E1. 设定CCR4的DMA通道，并且设定此时Timer1的preload为禁止状态；

' y; v/ r4 h, L5 x& Z8 X- Q2. 在CCR4 比较值部分产生DMA事件；
  }& g- Y4 m) l
3. 在1点上将CCR1数据直接修改为周期数据+1；
: o5 \. k& A$ _8 R' d4. 在2点上将CCR1数据修改为CCR1’的数据；
' i  f& L' y1 O: @+ B( c" G5. 时间计算上按照上面的图示设定，中间凹陷时间为两边补充波形时间之和。

7 d& g4 y2 I* w  W/ D% S波形移位变形

; p7 w4 b# c5 _
1. 设定Timer1的update事件的DMA通道

2. 在1点上更新CCR1数据为CCR1数据；
  `7 K8 e7 B* v+ K3. 在2点上更新CCR1数据为CCR1’数据；
& Z- i4 G" O; F0 O' J. G1 u0 g4. 保证前后的移位时间相同。
  U4 X  E. k& S6 H1 N! D% J2 q

$ e" p! |4 X; i: d0 d+ L6 r4 s0 r文档下载

6 f/ Y) Y& j& E- [0 y9 i5 n7 Z+ y更多实战经验
& b8 h  T4 j$ D, H& g# W0 m" K

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