STM32F2高低温死机问题% s7 N8 z3 T; l8 g }; p# | 9 V# E D9 p, z9 ?. h0 s 前言 本篇讨论了 一个STM32F2在用户产品进行高低温测试死机的例子。5 L+ J& k# u X$ t8 d 3 G$ o$ a8 W* ]. `: k* w1 o/ I 问题: 某用户使用STM32F2进行产品设计。当进行高低温试验时,发现高温时产品死机。 分析: S* q5 B9 K& t* g9 N# N 首先,芯片的工作范围是在温度85摄氏度以下。经了解,客户实测的温箱温度在70摄氏度左右,并未超过限制。然而,客户也表示芯片表面温度较高,有可能恰好达到了85摄氏度。此点需要进一步排查。 进一步了解,在产品中芯片工作在120MHz。而当频率降低到60MHz时也一切正常。由此推测,此问题可能并非由温度导致。 分析原理图,发现Vcap引脚上电容接的过小,没有达到2.2uF。而产品手册中明确标明了这一点: 不论此问题是否是导致这个问题的原因,这点都必须加以改进,消除隐患。# `. @# t9 D1 J' S* r- x 进一步了解软件,发现客户的代码中没有对Flash等待周期进行设置。 查询手册可得知,只有当芯片工作于较低频率时,才可以不加等待周期。而具体这个频率是多少,和芯片的工作电压也有关系。 根据客户产品上芯片的实际工作条件,将Flash等待周期调整为4。 ( Y7 o, ], h L: V1 b6 a6 C 经过以上措施,高温试验时一切正常。5 y4 ]* h5 Y* G; O4 S* y 由此可以看出,对于一些表面很象的原因还需要仔细分析、耐心查找,才能找到真正的症结所在。/ }0 [7 i) b$ D l3 G4 Z$ j6 L( p 1 G Z- H/ m1 }0 p! E/ D3 A0 \. m 文档下载地址: https://www.stmcu.org.cn/document/list/index/category-1033 实战经验汇总: https://www.stmcu.org.cn/module/forum/thread-576401-1-1.html 2 U" q3 |+ F( r8 M4 h |
请问下,STM32怎样设置flash的等待周期,之前没有设置过这个 |
非常有用,谢谢! |
我在低温-25°时 出现了CAN外设无法正常初始化导致 超时卡死。 主芯片也是F2,120Mhz ,主芯片外面没有接任何can芯片,但是有CAN通讯任务在进行,虽然CAN无法通讯,但常温下一切正常。-上电运行正常,但是手动复位或软件复位后启动时会出现出现 CAN外设无法正常初始化导致 超时卡死,这会是什么原因呢? |
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